最具有價格優勢的先進薄膜測量系統

使用F20高級頻譜反射測量系統， 我們能輕鬆的實現對膜層厚度和光學常數(n和k值)的測量。通過對膜層頂部、底部反射光譜進行分析，數秒內我們即可得到膜層的厚度、折射率和消光係數。

通過內置的獨立軟件和USB接口，能夠很容易的把F20安裝在任何的Windows電腦平台上。健全的軟件材料庫(100多種材料)，極大的滿足了對各種不同膜層結構測量的需要，包括對單層、多層或獨立膜層的測量。透過測量樣品的光學常數或導入已存在的資訊，能夠在材料庫內快速的新增新材料。

可測樣品膜層

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收係數的薄膜都可以測量。

主要包括電介質與半導體材料，例如：

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